Skannetunneleringsmikroskop (STM)
Hopp til navigering
Hopp til søk
Skannetunneleringsmikroskop (engelsk: scanning tunneling microscope) (STM) er et spesielt linjeavsøkende ikke-optisk elektronmikroskop med tilstrekkelig oppløsning til å kunne skille enkeltatomer. Det er overflata som avbildes. Virkemåten beror på den kvantemekaniske tunneleffekten av elektroner fra en spiss, en spisselektrode, som sveiper over en overflate hvor konturene i flata følges med en avstand på 1 nanometer. Instrumentet ble oppfunnet av Gerd Binnig og Heinrich Rohrer i 1982 ved IBM i Zürich. Oppfinnelsen ga dem Nobelprisen i fysikk i 1986.[1]
Referanser
- ↑ A. Sudbø, Kvantemekanisk tunnelring, Fra Fysikkens Verden 3, 108-111 (2025).
Eksterne lenker
- Artikkelen mangler oppslag i Wikidata
- «The Scanning Tunneling Microscope». Nobelprize.org.
Autoritetsdata