Scanning tunneling mikroskop: Forskjell mellom sideversjoner
Hopp til navigering
Hopp til søk
(Redder 1 kilde(r) og merker 0 som død(e).) #IABot (v2.0.9.5) |
m (Én sideversjon ble importert) |
(Ingen forskjell)
| |
Siste sideversjon per 26. sep. 2024 kl. 08:20
Avsøkende tunnelelektronmikroskop[1] (engelsk: scanning tunneling microscope) (STM) er et spesielt linjeavsøkende ikke-optisk elektronmikroskop med tilstrekkelig oppløsning til å kunne skille enkeltatomer. Det er overflata som avbildes. Virkemåten beror på den kvantemekaniske tunneleffekten av elektroner fra en spiss, en spisselektrode, som sveiper over en overflate hvor konturene i flata følges med en avstand på 1 nanometer. Instrumentet ble oppfunnet av Gerd Binnig og Heinrich Rohrer i 1982 ved IBM i Zürich. Oppfinnelsen ga dem Nobelprisen i fysikk i 1986.
Referanser[rediger | rediger kilde]
- ↑ «Tolketjenesten i Bergens termbase | Universitets- og høgskolerådet | Maritim terminologi | Maritim ordbok1 | Maritim ordbok2 | Marine evertebrater | Artsdatabanken | Økonomisk-administrativ terminologi | Norsk-tysk juridisk terminologi | English for business | Termbaser utviklet av Norsk termbank | Termbaser utviklet av Rådet for teknisk terminologi». oda.uib.no. Arkivert fra originalen 15. juni 2020. Besøkt 15. juni 2020.
Eksterne lenker[rediger | rediger kilde]
- Artikkelen mangler oppslag i Wikidata
- «The Scanning Tunneling Microscope». Nobelprize.org.
Autoritetsdata